SJT 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
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ID： |
B02C1C59AEFB4021A30E35083874223C |
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文件大小(MB)： |
1.57 |
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页数： |
35 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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UDC 6ZT.38Z.049.75 18E4：62b3H-08,rti 人民共和国国家标准,GB 3439 — 82,降为 SJ/T 10735-96,半导体集成电路TTL电路,测试方法的基本原理,General principles of measuring methods,of TTL circuits for semiconductor integrated circuits,1982 12 31 发布1983 10 01 实施,国家标准?局批准,中华人民共和国国家标准,半导体集成电路TTL电路,测试方法的基本原理,UDC 621.382,049,.75-181.4,：621.317.08,GB 3 439— 82,General principles of measuring methods,of TTL circuits for semiconductor integrated circuits,本标准规定了半导体集成电路TTL电路(以下简称器件)静态参数和动态参数测试方法的基本,原理,本标准是参考国际电エ委员会(IEC) 147-2《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理》制,订的,若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑,总的要求,1.1 若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定,1.2 测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范,的规定,1.3 测试期间,施于被测器件的电源电压应在规定值的士 1 %以内。施于被测器件的其他电参量的,精度应符合器件详细规范的规定,1.4 被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件,1.5 除了被测器件的功能是由参数测试来证实外,在静态参数测试和动态参数测试前应进行功能测,试,被测器件有内部存储或滞后现象时,测试前应有预置位周期,2静态参数测试,2.!输入钳位电压/た,2.1.1 定义,输入端在抽出规定的电流，火时的电压,2.1.2 测试原理图,输入钳位电压にた的测试原理图如图1所示,国家标准局1982 - 12 -31发布1983 — 10 — 01 实施,1,GB 3439—82,2.1.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a. 环境温度ア*,电源电压厂。い,输入端抽出电流//K,2,2,2,2,2,2,2,2,2,1.4,1.4.1,1 ?4?2,测试程序,143,1.4.4,1.4.5,146,在器件详细规范规定的环境温度アス下,将被测器件接入测试系统中,电源电压，8调到器件详细规范规定的电压值,被测输入端抽出器件详细规范规定的电流，火,其余输入端开路,输出端开路,在被测输入端测得输入钳位电压厂ス,按本标准第2.1.4,3项至2丒1.4.5项规定,分别测试每个输入端,2输出高电平电压匕阳,2.I定义,输入端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑高电平H时的电压,2.2.2 测试原理图,输出高电平电压乙汨的测试原理图如图2所示,图2,2.2.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.环境温度。4;,b.电源电压丒呢;,c,输入端施加的电平,d.输出端负载电流/。日,2.2.4 测试程序,2.2.4.1 在器件详细规范规定的环境温度アス下， 将被测器件接入测试系统中,2丒2.4.2电源电压，”调到器件详细规范规定的电压值,2.2,4.3,2.2.4.4,输入端施加器件详细规范规定的电平,被测输出端抽出器件详细规范规定的负载电流/0”; 其余输出端开路,2.2 .4.5在被测输出端测得输出高电平电压レ‘。，プ,2.2 . 4.6按本标准第2.2.4.3项至2.2.4.5项规定，分别测试每个输出端,2.3 输出高电平电压（双扩展端）レ"ホバ,2.3.1定义,有双扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电平”时的电压,2,GB 3439 — 82,2.3.2测试原理图,输出高电平电压（双扩展端）て日初的测试原理图如图3所示,输入网络,被测丒,R,图3,2.3.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a*,b.,c.,d.,环境温度Ta ；,2.3.4,电源电压ダcc J,输入端施加的电平;,扩展端电流/打,输出端负载电流，,测试程序,2.3.4.I在器件详细规范规定的环境温度アス下,将被测器件接入测试系统中,2丒3.4.2电源电压たc调到器件详细规范的规定值,2.3X3调节扩展端电阻灭,使扩展端电流/ズ为器件详细规范的规定值;其余输入端施加器件详细,规范规定的电平,2.3,4.4 输出端抽出器件详细规范规定的负载电流/。日,2.3.4.5 在输出端测得输出高电平电压（双扩展端）嗓冃取,2.4输出高电平电压（单扩展端）%成,2.4.1 定义,有单扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电平Zy时的电压,2.4.2测试原理图,输出高电平电压（单扩展端）匕汨ス的测试原理图如图4所示,Vcc,图4,3,GB 3439 — 82,2.4.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,环境温度ら;,2,2,2,2,平〇,2,2,2,2,d.,e.,4.4,电源电压たc ;,输入端施加的电平;,扩展端电压匕0,输出端负载电流/0,测试程序,4.4.1,4.4.2,4.4.3,4.4.4,4.4.5,在器件详细规范规定的环境温度ら下,将被测器件接入测试系统中,电源电压セc调到器件详细规范规定的电压值,扩展端电压瞑调到器件……
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